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hth华体会网页版電鍍層膜厚儀(yi) Thick 800A X射線熒光鍍層測厚儀(yi)
產品簡介
Thick 800A 鍍層測厚儀(yi) 是專(zhuan) 門針對鍍層厚度測量而精心設計的一款新型儀(yi) 器。主要應用於(yu) ：金屬鍍層的厚度測量、電鍍液和鍍層含量的測定；、鉑、銀等貴金屬和各種首飾的含量檢測。
產(chan) 品分類
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| 品牌 | 其他品牌 | 價格區間 | 麵議 |
|---|---|---|---|
| 產地類別 | 國產 | 應用領域 | 綜合 |
技術指標
分析元素範圍：硫（S）～鈾（U）
同時檢測元素：多24個(ge) 元素，多達5層鍍層
分析含量：一般為(wei) 2ppm到99.9%
鍍層厚度：一般在50μm以內(nei) （每種材料有所不同）
SDD探測器：分辨率低至135eV
的微孔準直技術：小孔徑達0.1mm,小光斑達0.1mm
樣品觀察：配備全景和局部兩(liang) 個(ge) 工業(ye) 高清攝像頭
準直器：0.3×0.05mm、Ф0.1mm、Ф0.2mm與(yu) Ф0.3mm四種準直器組合
儀(yi) 器尺寸：690（W）x 575（D）x 660（H）mm
樣品室尺寸：520（W）x 395（D）x150（H）mm
樣品台尺寸：393（W）x 258 （D）mm
X/Y/Z平台移動速度：額定速度200mm/s 高速度333.3mm/s
X/Y/Z平台重複定位精度：小於(yu) 0.1um
操作環境濕度：≤90%
操作環境溫度：15℃～30℃
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服務電話：
13828891499
深圳市寶安區福永街道新和新興工業園1區10棟4樓
602881875@qq.com
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